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以下是《高分子学报》已出版的“高分子表征技术专题”散射技术类（小角X射线散射、同步辐射硬X射线散射、小角中子散射、光散射、X射线晶体结构解析在高分子表征研究中的应用，及功能薄膜形貌表征技术）特约综述，每篇综述涵盖基本原理、实验技巧和典型应用三个方面，旨在给广大研究生和年轻学者提供做好高分子表征工作所必须掌握的基础知识训练。欢迎关注阅读。
小角X射线散射技术在高分子表征中的应用
吕冬, 卢影, 门永锋
中国科学院长春应用化学研究所高分子物理与化学国家重点实验室卢影副研究员、门永锋研究员团队从小角X射线散射(SAXS)技术在高分子表征中的应用出发，简述了SAXS技术的基本理论，根据测试中的实际问题给出了测试时可采取的实验技巧。最后，结合典型实例，概述了高分子材料中可用SAXS技术表征的微观结构及其相应的理论模型。希望本文能作为入门文献，帮助初学者更好地理解SAXS技术的原理，并结合实际需求迅速了解SAXS技术的适用范围及相关实验技巧，高效地完成相关实验。
高分子学报, 2021, 52(7): 822-839
doi: 10.11777/j.issn1000-3304.2020.20249
<hr/>小角中子散射技术及其在大分子结构表征中的应用
左太森, 马长利, 韩泽华, 李雨晴, 李明涛, 程贺
程贺研究员在特约综述中通过对比各类散射方法，系统评述了小角中子散射（SANS）的特点和实验技术以及作为一种独特的散射方法在高分子科学和相关工业领域中的应用。该论文首先通过各种散射方法的对比说明小角中子散射的衬度来源、同位素识别和能够表征的特征尺度范围；接着简要叙述了小角中子散射的基本原理、谱仪类型、基本实验过程和实验方法；最后通过实例分析说明小角中子散射技术在大分子相关领域中的应用。文章结合高分子物理教科书中的论述和近期国内外相关研究进展，简要综述了小角中子散射技术在高分子溶液、高分子共混物复合材料、高分子结晶、凝胶、多孔材料、生物大分子等研究领域的典型应用。随着我国三大中子源对外开放和多台小角谱仪相继建设完成，将进一步扩展我国的 SANS 用户群体，推动这一技术在基础研究、应用研究和产业领域的广泛应用。
高分子学报, 2021, 52(9): 1192-1205
doi: 10.11777/j.issn1000-3304.2020.20242
<hr/>X射线晶体结构解析技术在高分子表征研究中的应用
扈健, 王梦梵, 吴婧华
青岛科技大学扈健和北京化工大学王梦梵等人在特约综述中从X射线衍射法的基本原理出发，介绍了X射线衍射法的测试方法和样品制备技巧，并举例介绍了X射线衍射法在解析高分子晶体结构的基本流程，重点阐述了近年来高分子晶体结构解析在高分子复合物体系，高分子材料力学性能预测以及基于晶体结构精修在外场作用下的结构演变等领域的应用和进展。文章在最后的总结与展望中指出：随着同步辐射和计算机模拟等技术进步，结合多种表征手段可以得到更为准确的高分子晶体结构，不仅有助于我们更加深刻理解高分子各级结构的复杂性，也有利于探明高分子材料微观结构与宏观性能之间的关系。
高分子学报, 2021, 52(10): 1390-1405
doi: 10.11777/j.issn1000-3304.2020.20258
<hr/>同步辐射硬X射线散射表征高分子材料：原位装置的研制和应用
赵景云, 昱万程, 陈威, 陈鑫, 盛俊芳, 李良彬
中国科学技术大学昱万程副研究员和李良彬研究员等人在特约综述中通过具体的研究案例，介绍同步辐射原位实验的设计、原位研究装置的研制、操作技巧和数据处理等整个在线实验流程，帮助读者建立对同步辐射原位实验的基本认识。重点阐述了若干具有代表性的高分子材料体系和样品环境，简要概述同步辐射硬X射线散射技术在表征复杂加工外场作用下高分子材料多尺度结构演变方面的应用，帮助读者加深对同步辐射原位研究装置及相关实验过程的理解，有助于引发读者的思考，积极拓展同步辐射硬X射线散射技术在高分子材料表征中的应用。
高分子学报, 2021, 52(12):1632-1646
doi: 110.1777/j.issn1000-3304.2021.21111
<hr/>光散射技术在高分子表征研究中的应用
郑萃, 刘芷君, 梁德海
北京大学化学与分子工程学院梁德海团队综述了光散射的历史、基本理论和实验技巧，重点介绍稀溶液中静态光散射和动态光散射，对于浓溶液适用的交叉相关技术和扩散波谱技术以及固体光散射也做简要介绍。为了大家能够更好地利用光散射技术来解决实际的科研问题，综述的最后介绍了四个应用实例：动、静态光散射相结合跟踪研究线团到密实球的转变过程，光散射确定超支化分子的标度关系，时间可分辨的光散射来剖析聚合诱导胶束化的机理，以及去偏振动态光散射研究纳米粒子在生物介质中的聚集行为。
高分子学报, 2022, 53(1): 90-106
doi: 10.11777/j.issn1000-3304.2021.21184
<hr/>功能薄膜形貌表征技术
宋静楠,詹俊哲,张明,朱磊,郝天雨,徐锦秋,周子春,周冠清,薛晓楠,冯威,张永明,刘烽
功能薄膜器件的性能与薄膜形貌息息相关。先进的散射技术不仅可以表征薄膜结晶特性、相分离结构、界面取向等关键形貌信息，还可以表征成膜动力学过程，有助于深入理解“形貌-性能”的关系，指导器件性能的优化。上海交通大学刘烽教授团队系统地介绍了常用散射技术（GIWAXS，GISAXS, SANS, RSoXS和原位表征技术）的工作原理，并通过经典案例细致地介绍了各散射技术的功能和数据解析过程，为薄膜器件领域科研工作者快速选择合适的形貌表征技术提供指导。
高分子学报, 2022, 53(12): 1552‒1566
doi: 10.11777/j.issn1000-3304.2022.22118 |
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发表于 2022-12-28 12:49:02